• 日本USHIO牛尾红外灯管QIR120-500/B2

  红外灯QIR230-200/EQIR120-250/EQIR240-300/E3QIR240-300/VBQIR240-300/年QIR240-300/ZDQIR240-300/ZHQIR240-300C/DQIR230-330/EQIH120-375T/SQIR120-500/B2QIR120-500/E3QIR120-500/ZBQIR120-500/ZB2QIR120-500/ZHQIR23

  2024-07-20 webAdmin

• YP-250I/YP-150I 山田光学高亮度卤素光源装置

  YP-250I/YP-150I 山田光学高亮度卤素光源装置YP-250I/YP-150I 山田光学高亮度卤素光源装置高亮度卤素光源设备是 一种宏观观察照明设备，用于检测最终加工表面上的各种缺陷，例如异物，划痕，抛光不均匀，雾度，打滑等，这在半导体晶圆和液晶基板的加工过程中是最费力的工作。 ..1.样品表面的照明度可达到400,000 Lx以上。　　2.由于使用卤素灯作为光源，因此色温高，几乎没有不

  2024-07-09 webAdmin

• 目视检查用超高亮度照明装置UIH-1C

  目视检查用超高亮度照明装置UIH-1C 目视检查用超高亮度照明装置UIH-1C 目视检查用超高亮度照明装置UIH-1C产品介绍：当高强度光照射到物体上时（*1） ，会发生廷德尔现象，因此可以轻松目视确认表面的划痕和污垢以及内部的异物和气泡。*1：半导体晶圆、掩膜玻璃、硬盘、液晶面板、透镜等！UIH-1C型规格灯额定值15V 150W设计照射直径和距离距灯筒顶端180mm处直径40mm最大亮度上方

  2024-07-09 webAdmin

• 半导体晶片、掩模玻璃、硬盘、液晶面板检查灯UIH-1H,

  半导体晶片、掩模玻璃、硬盘、液晶面板检查灯UIH-1H,半导体晶片、掩模玻璃、硬盘、液晶面板检查灯UIH-1H,半导体晶片、掩模玻璃、硬盘、液晶面板检查灯UIH-1H,产品介绍：当高强度光照射到物体上时（*1） ，会发生廷德尔现象，因此可以轻松目视确认表面的划痕和污垢以及内部的异物和气泡。*1：半导体晶圆、掩膜玻璃、硬盘、液晶面板、透镜等！UIH-1C型规格灯额定值15V 150W设计照射直径和距

  2024-07-09 webAdmin

• INTECS英特思新上市 目视表面高辉度检查灯UIH-2D

  INTECS英特思新上市 目视表面高辉度检查灯UIH-2DINTECS英特思新上市 目视表面高辉度检查灯UIH-2D产品介绍：当高强度光照射到物体上时（*1） ，会发生廷德尔现象，因此可以轻松目视确认表面的划痕和污垢以及内部的异物和气泡。*1：半导体晶圆、掩膜玻璃、硬盘、液晶面板、透镜等！UIH-1C型规格灯额定值15V 150W设计照射直径和距离距灯筒顶端180mm处直径40mm最大亮度上方照射

  2024-07-09 webAdmin

• INTECS英特思上市 目视表面划痕照明装置UIH-3D

  INTECS英特思上市 目视表面划痕照明装置UIH-3DINTECS英特思上市 目视表面划痕照明装置UIH-3D产品介绍：当高强度光照射到物体上时（*1） ，会发生廷德尔现象，因此可以轻松目视确认表面的划痕和污垢以及内部的异物和气泡。*1：半导体晶圆、掩膜玻璃、硬盘、液晶面板、透镜等！UIH-1C型规格灯额定值15V 150W设计照射直径和距离距灯筒顶端180mm处直径40mm最大亮度上方照射直径

  2024-07-09 webAdmin

• 针孔探测器的特征优势

  低频脉冲放电型低频脉冲放电和低电流输出不会损坏油漆或衬膜。检出率高。可以采用间接接地。即使覆盖整个表面也能实现接地。可变电压型可根据漆膜的性质、厚度、检测目的，采用适当的检测电压进行检查。检测到的电压始终显示在仪表上。防止由于电压过高或不足而导致的检查错误。操作简单、设计安全操作时，只需将探头电极放在待检查的物体上即可。如果有针孔，灯或蜂鸣器会通知您。低电流、高电压输出电路和安全远程开关，确保操作

  2024-06-26 webAdmin

• 铁片探知器的应用

  各种纺织制品、工业制品中混入的铁针、大头针、钉子、碎片等的检测服装、和服、床上用品等缝制品中混针、断针的检测，铁片的检测。检测地毯、纺织品、毛毡、无纺布等材料中混入的针、线、铁片。食品、包装品、药品等中混入的针、大头针、订书钉、铁片等的检测和检查。用于X射线检查前简单检查针等铁质异物、MRI检查前去除发夹等医疗用途。用于安全目的，例如检测武器和检查行李、包裹和礼物。对于安装在缝制产品上的服装配件，

  2024-06-26 webAdmin