爱安德热销 NITTOSEIKO日东精工紧凑型测绘系统MCP-S330

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• 导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。

• 能够绘制最大300mm见方的样品并连续测量多个样品。

• 可连接到 Loresta GX 以测量 10-4 至 10+7Ω 范围

• 全自动测量、计算、数据处理和3D图形输出

导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。

• 随着显示器件（液晶和有机EL）要求具有更快的响应速度和更高的清晰度，电极基板的均匀性变得更加重要。

• 表面电阻率取决于材料。当材料均匀时，薄膜越厚，表面电阻率越低。

• 在薄膜领域，薄膜厚度变化通过表面电阻率绘图来评估。