NITTOSEIKO日东精工 大型测绘电阻率计 MCP-S520

NITTOSEIKO日东精工 大型测绘电阻率计 MCP-S520

NITTOSEIKO日东精工 大型测绘电阻率计 MCP-S520

NITTOSEIKO日东精工 大型测绘电阻率计 MCP-S520

• 测量、计算、数据处理和3D图形输出可以自动化。
  （电路板尺寸最大可达 650 x 650 毫米。）

• 以三维图形显示[Ω]、[Ω/□]、[Ωcm]、[S/cm]。

• 测量位置设置可以通过三种方式一键完成：网格输入和顺序输入。

• 它可用于广泛的用途，从研究和开发到在线抽样检查。

• 有从低电阻率到高电阻率两种类型。

适用于测量ITO薄膜、各种金属薄膜等的膜厚分布以及传送带的电阻率分布。

MCP-S600阻抗率自动测定系统功能介绍：

MCP-S600 High Resistance Range

MCP-S600阻抗率自动测定系统与MCP-S620，MCP-S521，MCP-S600进行低阻抗高阻抗测试的转换

MCP-S600阻抗率自动测定系统特色：

            1、测定演算、数据处理，3次元图形输出*自动化;

             2、可应用至基板尺寸650×650mm之长方形、圆形样品;

             "边缘之影响"被补正，依[MCC方法]测定例;

MCP-S600阻抗率自动测定系统选型说明：

              低阻抗率型式：MCP-S620 (650×650mm),

                             MCP-S521 (450×450mm)

               高阻抗率型式：MCP-S600 (400×400mm)

MCP-S600

MCP-S600阻抗率自动测定系统选型说明：